Medidor de densidade areal de super raios X
Princípios de medição
Quando o raio irradia o eletrodo, ele será absorvido, refletido e espalhado pelo eletrodo, resultando em uma certa atenuação da intensidade do raio após o eletrodo transmitido em relação à intensidade do raio incidente, e sua taxa de atenuação é negativamente exponencial com o peso ou densidade de área do eletrodo.
I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)
I_0 : Intensidade inicial do raio
I: Intensidade do raio após o eletrodo transmissor
λ : Coeficiente de absorção do objeto medido
m: Espessura/densidade de área do objeto medido

Destaques do equipamento

Comparação de medição de sensor semicondutor e sensor laser
● Medição de contornos e características detalhadas: resolução espacial em milímetros, medição de densidade de área de contorno com alta velocidade e alta precisão (60 m/min)
● Medição de largura ultra: adaptável a mais de 1600 mm de largura de revestimento.
● Digitalização de ultra-alta velocidade: velocidade de digitalização ajustável de 0-60 m/min.
● Detector de raios semicondutores inovador para medição de eletrodos: resposta 10 vezes mais rápida do que soluções tradicionais.
● Acionado por motor linear de alta velocidade e alta precisão: a velocidade de digitalização é aumentada de 3 a 4 vezes em comparação com as soluções tradicionais.
● Circuitos de medição de alta velocidade de desenvolvimento próprio: a frequência de amostragem é de até 200 kHZ, melhorando a eficiência e a precisão do revestimento em circuito fechado.
● Cálculo da perda da capacidade de afinamento: a largura do ponto pode ser de até 1 mm. Ele pode medir com precisão características detalhadas, como contornos da área de afinamento da borda e arranhões no revestimento do eletrodo.
Interface de software
Exibição personalizável da interface principal do sistema de medição
● Determinação da área de desbaste
● Determinação de capacidade
● Determinação de riscos

Parâmetros técnicos
Item | Parâmetro |
Proteção contra radiação | A dose de radiação de 100 mm da superfície do equipamento é menor que 1μsv/h |
Velocidade de digitalização | 0-60m/min ajustável |
Frequência de amostra | 200kHz |
Tempo de resposta | <0,1 ms |
Faixa de medição | 10-1000 g/㎡ |
Largura do ponto | 1 mm, 3 mm, 6 mm opcional |
Precisão de medição | P/T≤10%Integral em 16 segundos: ±2σ: ≤±valor verdadeiro×0,2‰ ou ±0,06g/㎡; ±3σ: ≤±valor verdadeiro×0,25‰ ou ±0,08g/㎡;Integral em 4 segundos: ±2σ: ≤±valor verdadeiro×0,4‰ ou ±0,12g/㎡; ±3σ: ≤±valor verdadeiro× 0,6‰ ou ±0,18g/㎡; |